Структурометрия фотографическая

Определение «Структурометрия фотографическая» по БСЭ:
Структурометрия фотографическая - учение об измерении изобразительных свойств фотографического материала, обусловленных дискретной структурой как непроявленного слоя фотографической эмульсии, так и проявленного почернения фотографического. С. ф. зародилась в рамках сенситометрии, и такие её понятия, как Разрешающая способность фотографирующей системы и Зернистость почернения, долгое время относились к числу величин, исследуемых при сенситометрических испытаниях. Выделение С. ф. в самостоятельный раздел фотографической метрологии завершилось лишь к концу 60-х гг. 20 в., когда в фотографию были перенесены многие понятия общей теории связи и информации теории, а фотографический материал стали рассматривать как один из элементов систем передачи, записи и воспроизведения изображения (наряду с телевизионными, электроннооптическими и другими элементами таких систем) и описывать в терминах, общих для всех этих элементов.
В С. ф., кроме упомянутого выше, изучают: частотно-контрастную характеристику (нередко называемую функцией передачи модуляции); гранулярность (объективно измеряемую Микрофотометром неоднородность оптической плотности почернения D, обусловленную зернистостью его структуры и выражаемую средним квадратом флуктуации плотности почернения или его пропускания), отношение сигнал/шум (отношение приращения D негатива, вызванного приращением экспозиции от объекта, т. е. «сигналом», к среднеквадратичной флуктуации D негатива, т. е. к «шуму»);
спектр мощности шумов (распределение квадрата амплитуды флуктуаций D по пространственным частотам); квантовую эффективность детектирования (способность фотоматериала к выделению слабого сигнала при наличии шума; выражается частным от деления отношения сигнал/шум в полученном изображении на отношение сигнал/шум в действующем световом потоке при измерении его идеальным детектором). В С. ф. исследуют также информационные свойства фотографического материала, в частности информационную ёмкость (плотность записи в бит/ед. площади) и чувствительность информационную.
Лит.: Вендровски К. В., Айнгорн М. А., Минкевич И. Г., «Успехи научной фотографии», 1966, т. II, с. 171-221; Миз К., Джеймс Т., Теория фотографического процесса, пер. с англ., Л., 1973.
А. Л. Картужанский.

Структурный этаж    Структурометрия фотографическая    Структуры кристаллов